化学开封机-四川开封机-特斯特(查看)
对于故障分析而言,微光显微镜(EmissionMicroscope,EMMI)是一种相当有用且效率极高的分析工具。主要侦测IC内部所放出光子。在IC元件中,EHP(ElectronHolePairs)Recombination会放出光子(Photon)。举例说明:在P-N结加偏压,等离子开封机,此时N阱的电子很容易扩散到P阱,而P的空穴也容易扩散至N然後与P端的空穴(或N端的电子)做EHPRecombination。EMMI可广泛应用于侦测各种组件缺陷所产生的漏电流,包括闸极氧化层缺陷(Gateoxidedefects)、静电放电破坏(ESDFailure)、闩锁效应(LatchUp)、漏电(Leakage)、接面漏电(JunctionLeakage)、顺向偏压(ForwardBias)及在饱和区域操作的晶体管,可藉由EMMI定位,找热点(HotSpot或找亮点)位置,进而得知缺陷原因,帮助后续进一步的失效分析。EMMI微光显微镜微光显微镜(EmissionMicroscope,EMMI)是常用漏电流路径分析手段。对于故障分析而言,微光显微镜(EmissionMicroscope,四川开封机,EMMI)是一种相当有用且效率极高的分析工具。主要侦测IC内部所放出光子。在IC元件中,EHP(ElectronHolePairs)Recombination会放出光子(Photon)。如在P-N结加偏压,此时N阱的电子很容易扩散到P阱,激光开封机,而P的空穴也容易扩散至N,然后与P端的空穴(或N端的电子)做EHPRecombination。在故障点定位、寻找近红外波段发光点等方面,微光显微镜可分析P-N接面漏电;P-N接面崩溃;饱和区晶体管的热电子;氧化层漏电生的光子激发;Latchup、GateOxideDefect、JunctionLeakage、HotCarriersEffect、ESD等问题.化学开封机-四川开封机-特斯特(查看)由苏州特斯特电子科技有限公司提供。苏州特斯特电子科技有限公司坚持“以人为本”的企业理念,拥有一支高素质的员工队伍,力求提供更好的产品和服务回馈社会,并欢迎广大新老客户光临惠顾,真诚合作、共创美好未来。苏州特斯特——您可信赖的朋友,公司地址:苏州工业园区新平街388号腾飞创新园23幢5层04室5529C号房间,联系人:宋作鹏。)