热阻测试仪是的热测试仪，用于测试IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性。该仪器基于的测试方法，通过改变电子器件的输入功率，元器件失效分析公司，使得器件产生温度变化，在变化过程中，仪器测试出芯片的瞬态温度响应曲线，仅在几分钟之内即可分析得到关于该电子器件的的热特性。仪器测试技术不是基于“脉冲方法”的热测试仪，“脉冲方法”由于是基于测量的技术所以其测出的温度瞬态测试曲线精度不高，而热阻测试仪采用的是“运行中”的实时测量的方法，结合其精密的硬件可以快速扑捉到高信噪比的温度瞬态曲线。Phasc12测试来的数据，器件有四个层次。其中个是芯片下的粘接层的阻抗值，后面Tau是完成的测试时间，四个层次的阻抗值之和就是这个器件的热阻值。并且每一-个拐点都表明热进入了一个新的层次。每个层次的数据将表明这个器件不同层向外散热的好坏，对不同厂家同类产品而言，可以让我们选择热阻值非常好的厂家;同时它也可以检测同-~厂家，同类产品，电子元器件失效分析，不同批次质量的差异，从而评测出该厂家生产工艺的稳定性。主要用于测试二极管，三极管，线形调压器，可控硅，元器件失效分析，LED，MOSFET，MESFET，IGBT，IC等分立功率器件的热阻测试及分析。PHASE12可以测试Rja，Rjc，RjbRjl的热阻（测试原理符合JEDEC51-1定义的动态及静态测试方法）1）瞬态阻抗(ThermalImpedance)测试，元器件失效分析设备，可以得到从开始加热到结温达到稳定这一过程中的瞬态阻抗数据。2）稳态热阻(ThermalResistance)各项参数的测试，其包括：Rja，Rjb，Rjc，Rjl，当器件在给一定的工作电流后。热量不断地向外扩散，达到了热平衡，这时得到的结果是稳态热阻值。在没有达到热平衡之前测试到的是热阻抗。3）可以得到用不同占空比方波测试时的阻抗与热阻值。4）内部封装结构与其散热能力的相关性分析(StructureFunction)。5）装片质量的分析(DieAttachmentQualityEvaluation).6）.多晶片器件的测试。7.SOA图表生成8.浪涌测试元器件失效分析-苏州特斯特公司-元器件失效分析公司由苏州特斯特电子科技有限公司提供。元器件失效分析-苏州特斯特公司-元器件失效分析公司是苏州特斯特电子科技有限公司今年新升级推出的，以上图片仅供参考，请您拨打本页面或图片上的联系电话，索取联系人：宋作鹏。)