热阻测试仪是的热测试仪，用于测试IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性。该仪器基于的测试方法，通过改变电子器件的输入功率，使得器件产生温度变化，在变化过程中，失效分析仪器，仪器测试出芯片的瞬态温度响应曲线，仅在几分钟之内即可分析得到关于该电子器件的的热特性。仪器测试技术不是基于“脉冲方法”的热测试仪，“脉冲方法”由于是基于测量的技术所以其测出的温度瞬态测试曲线精度不高，而热阻测试仪采用的是“运行中”的实时测量的方法，结合其精密的硬件可以快速扑捉到高信噪比的温度瞬态曲线。漏气检测设备型号：德国INFICON/UL5000及法国ADIXEN/ASM192TD+主要技术参数：1、测量范围（Pa·m3/s）：1×10-2～5×10-132、检漏口对氦气的抽速：30m3/h3、双灯丝180°磁偏转质谱室4、检测压力范围0～30MPa用途：具备真空、吸等多种检测模式，可开展氦质谱真空检漏、正压检漏；并具备针对密封元器件的背压法检漏能力，进行粗检及细检；可有效检测出被检件材料、焊缝、螺接、粘接、内密封等存在的贯穿型通道（漏孔）并可定位、定量。同时实验室具备十万级洁净检测环境。Phasc12测试来的数据，器件有四个层次。其中个是芯片下的粘接层的阻抗值，后面Tau是完成的测试时间，四个层次的阻抗值之和就是这个器件的热阻值。并且每一-个拐点都表明热进入了一个新的层次。每个层次的数据将表明这个器件不同层向外散热的好坏，失效分析，对不同厂家同类产品而言，失效分析设备，可以让我们选择热阻值非常好的厂家;同时它也可以检测同-~厂家，同类产品，失效分析仪，不同批次质量的差异，从而评测出该厂家生产工艺的稳定性。主要用于测试二极管，三极管，线形调压器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET，IGBT，IC等分立功率器件的热阻测试及分析。失效分析-特斯特-失效分析仪由苏州特斯特电子科技有限公司提供。失效分析-特斯特-失效分析仪是苏州特斯特电子科技有限公司今年新升级推出的，以上图片仅供参考，请您拨打本页面或图片上的联系电话，索取联系人：宋作鹏。)