主要特点：1、仪器符合JEDECJESD51-1和MIL-STD-750E标准法规。2、仪器兼具JESD51-1定义的静态测试法与动态测试法，能够实时器件瞬态温度响应曲线，其采样率高达1微秒，测试延迟时间高达1微秒，结温分辨率高达0.01℃。3、能测试稳态热阻，也能测试瞬态热阻抗。4、的分析法，能够分析器件热传导路径上每层结构的热学性能，构建器件等效热学模型，是器件封装工艺、可靠性试验、材料热特性以及接触热阻的强大支持工具。因此被誉为热测试中的“X射线”。5、可以和热软件FloEFD无缝结合，将实际测试得到的器件热学参数导入软件进行后续优化。在进行微焦点X射线检测时有一个与常规X射线检测很大的不同：我们通常不需要考虑图像半影的大小，元器件失效分析，即通常不考虑几何不清晰度的影响。原因是当焦点尺寸足够小时，半影可以忽略不计。因此我们可以在X射线视场可接受的情况下，尽可能减小被检样品到焦点的距离。苏州特斯特电子科技有限公司，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，元器件失效分析设备，产品涵盖电子元器件，电路板，元器件失效如何分析，线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等测试设备制造国家。气密性试验与气压试验是不一样的。首先，它们的目的不同，电子元器件失效分析，气密性试验是检验压力容器的严密性，气压试验是检验压力容器的耐压强度。其次试验压力不同，气密性试验压力为容器的设计压力，气压试验压力为设计压力的1.15倍。我们生活当中的许多产品都需要做气密性试验，在北京主要有航天环境可靠性与检测中心；梓恺环境可靠性与电磁兼容试验中心；航天3院3部，无线电厂等可以做。电子元器件失效分析-元器件失效分析-苏州特斯特电子由苏州特斯特电子科技有限公司提供。“失效分析设备,检测服务,检测仪器”选择苏州特斯特电子科技有限公司，公司位于：苏州工业园区新平街388号腾飞创新园23幢5层04室5529C号房间，多年来，苏州特斯特坚持为客户提供好的服务，联系人：宋作鹏。欢迎广大新老客户来电，来函，亲临指导，洽谈业务。苏州特斯特期待成为您的长期合作伙伴！)