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EMMI(EmissionMicroscopy)是用来做故障点定位、寻找亮点、热点(HotSpot)的工具。其具备高灵敏度的制冷式电荷(光)耦合组件(C-CCD)侦测器,可侦测组件中电子-电洞再结合时所发射出来的光子,其光波长在350nm~1100nm,此范围相当于可见光和红外光区。苏州特斯特电子科技有限公司,主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务,产品涵盖电子元器件,电路板,超声检测系统,线缆线束的测试与检测。EMMI微光显微镜微光显微镜(EmissionMicroscope,EMMI)是常用漏电流路径分析手段。对于故障分析而言,四川超声检测,微光显微镜(EmissionMicroscope,超声检测仪器,EMMI)是一种相当有用且效率极高的分析工具。主要侦测IC内部所放出光子。在IC元件中,EHP(ElectronHolePairs)Recombination会放出光子(Photon)。如在P-N结加偏压,此时N阱的电子很容易扩散到P阱,而P的空穴也容易扩散至N,然后与P端的空穴(或N端的电子)做EHPRecombination。在故障点定位、寻找近红外波段发光点等方面,微光显微镜可分析P-N接面漏电;P-N接面崩溃;饱和区晶体管的热电子;氧化层漏电生的光子激发;Latchup、GateOxideDefect、JunctionLeakage、HotCarriersEffect、ESD等问题.EMMI侦测的到亮点、热点(HotSpot)情况;原来就会有的亮点、热点(HotSpot)饱和区操作中的BJT或MOS(SaturatedOrActiveBipolarTransistors/SaturatedMOS)动态式CMOS(DynamicCMOS)二极管顺向与逆向偏压崩溃(ForwardBiasedDiodes/ReverseBiasedDiodesBreakdown)侦测不到亮点情况不会出现亮点的故障奥姆或金属的短路(OhmicShort/MetalShort)亮点被遮蔽之情况埋入式接面的漏电区(BuriedJuncti)金属线底下的漏电区(LeakageSitesUnderMetal)超声检测仪器-苏州特斯特(在线咨询)-四川超声检测由苏州特斯特电子科技有限公司提供。行路致远,砥砺前行。苏州特斯特电子科技有限公司致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴,更矢志成为分析仪器具有竞争力的企业,与您一起飞跃,共同成功!)