?非接触式检测SEMILAB晶体缺陷检测装置LST集尘机非接触式检测SEMILAB晶体缺陷检测装置LST晶体缺陷检测装置LST系列LST-2100，LST-2500，非接触式晶体缺陷检测装置SIRM系列SIRM-2100，AS-10H集尘机，SIRM-2500，SIRM-3000，压力测量仪PSI系列PSI-2100，PSI-2500，AS-27CV集尘机，PSI-3000，错位缺陷可视化装置EnVision，DLS低温恒温器产品介绍LST系列是一款功能强大的微晶缺陷分析仪。BMD散射入射光，该光由样品切割边缘附近的CCD相机记录。SIRM体微缺陷分析仪是一种非接触式、无损光学仪器，用于完整的体微缺陷(BMD)表征（体和半导体晶圆表面附近的氧和金属沉淀物、空隙、堆垛层错、滑移线、位错、等）是可能的。PSI产品系列专为检查和可视化晶体缺陷而开发，例如与具有大产能的自动化制造工厂的Si晶圆/小片中的机械应力（应力）相关的孪晶缺陷。。用于半导体晶圆的应力测量。晶体缺陷可视化装置EnVision是一种非破坏性、非接触式半导体检测装置，AP-32集尘机，可以在15nm级别可视化位错缺陷。错位缺陷的可视化使得过去依赖于工艺工程师的经验和直觉的工艺工作的定量优化成为可能。对于验证在表面附近无法确认的深度方向的应力诱发位错缺陷非常有效。DLS低温恒温器：Semilab提供以下用于DLS仪器的低温恒温器。浴式低温恒温器：80K至450K–加热由计算机控制–控制器内置于DLS-1000中。对流式（在LN2气氛中）。自动LN2低温恒温器80K-550K（可选高达800K）。样品在真空室中——需要计算机控制加热和冷却（通过沸腾的液氮）。需要控制器——内置DOSPC和低温恒温器控制器。自动氦气（闭路循环）真空低温恒温器：30K至325K–由DLS控制软件控制。真空低温恒温器需要真空泵（可选）。?东京计装TOKYOKEISO净化装置小口径CP系列集尘机东京计装TOKYOKEISO净化装置小口径CP系列净化装置小口径CP系列，CM系列，中口径CR系列，CM系列，CAM系列产品介绍尽管气体和液体管线供应和负载压力存在波动，但C系列吹扫套件仍能保持恒定的流速。这是一个C型恒流阀和各种流量计的组合。根据流量有多种类型可供选择。定流量阀型一次压力波动用二次压力波动用C-11C-12C-21C-22C-31C-32C-41C-42测量流体气体气体和液体气体和液体气体和液体大流体压力（MPa）0.71个0.80.8高流体温度(°C)120120120120控制压差范围（MPa）C-110.03～0.3C-120.05～0.30.06至0.40.1至0.50.1至0.6控制精度±(%FS)±3±5±5±5连接直径RC1/8RC1/4RC3/8RC1/2大约质量(kg)0.20.92.38.0用于初级压力波动（用于液体和气体），用于次级压力波动（用于液体）向阳电气KOYO三相模拟断路器SCB-30B三相模拟断路器SCB-30B，电缆电压检测仪(生死检测仪)CDD2P，感应开关TSB-300，测试插头测试装置PCT6P产品介绍三相模拟断路器SCB-30BA、B和C相可以单独或同时进行测试。先导继电器测试设备：通过连接PLT-30B和电缆，集尘机，可轻松应用于多相重合闸测试。可酌情选择定时器使用/锁定和切断操作（CB）使用/锁定。所有三个阶段都可以同时打开/关闭。每相的ON/OFF状态由指示灯指示。电缆电压检测仪（生死检测仪）CDD2P使用和，可以在电源电缆拆除工作期间地执行电缆搜索和通电确认。特征该装置由信号电流、传感器和产生特殊信号的信号电流等组成，可在拆除工作中地搜索电缆和检查通电情况。感应开关TSB-300本装置是在相（感）判确认试验时，方便切换接地方式的辅助感判切换装置。测试插头测试仪PCT6P配电盘用PT（4极）、CT（4极）插头等的质量检测装置。特征本装置是确认PT(4极)及CT(4极)插头的优劣的测试装置。可以通过简单的操作确认用于维护和锁定配电盘的测试终端插头的正常或故障。只需将想要测试的插头插入实体，简单的操作以及LED的显示就能简单的确认。导通确认是根据接触电阻值来确认的，所以可以进行确实的检查。因为也有LED检查功能所以放心。用一键的单元交换各公司插头能对应。(可选)因为是小型轻量，现场的搬运也简单。AP-32集尘机-津泽机电科技(在线咨询)-集尘机由重庆津泽机电科技有限公司提供。重庆津泽机电科技有限公司是从事“五金工具,机械设备及汽车配件,自动化设备,仪器仪表,实验耗材”的企业，公司秉承“诚信经营，用心服务”的理念，为您提供更好的产品和服务。欢迎来电咨询！联系人：王慧。)