对比试样/块校准-北京纳克无损公司-对比试样/块校准方案
企业视频展播,请点击播放视频作者:钢研纳克检测技术股份有限公司对比试样校准介绍用来在线测量轧制后的板带材厚度,并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统,以实现对板带厚度的自动厚度控制(AGC)。目前常见的测厚仪有γ射线、β射线、x射线及同位素射线等四种,对比试样/块校准哪家好,其安放位置均在板带轧机的出口或入口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊,对比试样/块校准,目的是降低板厚的滞后调整时间。对比试样校准类型1.涡流-当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时,由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流,此涡流所产生的磁场又反作用于探头线圈,使其阻抗发生变化,此变化量与探头线圈离金属表面的距离(即覆盖层的厚度)有关,因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。2.同位素-利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理,可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片,塑料膜,纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。对比试样校准根据测量原理分类1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢﹨铁﹨银﹨镍.此种方法测量精度高2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量,对比试样/块校准机构,此种方法较磁性测厚法精度低。3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,对比试样/块校准方案,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵﹨测量精度也不高。4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层.一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦。5.射线测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合。国内目前使用较为普遍的是1﹨2两种方法。对比试样/块校准-北京纳克无损公司-对比试样/块校准方案由钢研纳克检测技术股份有限公司提供。钢研纳克检测技术股份有限公司是北京北京市,机械及工业制品项目合作的见证者,多年来,公司贯彻执行科学管理、创新发展、诚实守信的方针,满足客户需求。在北京纳克无损领导携全体员工热情欢迎各界人士垂询洽谈,共创北京纳克无损更加美好的未来。)