企业视频展播，请点击播放视频作者：钢研纳克检测技术股份有限公司c扫描应用范围近年来，超声C扫描公司，超声波扫描显微镜（C-SAN）已被成功地应用在电子工业，尤其是封装技术研究及实验室之中。由于超音波具有不用拆除组件外部封装之非破坏性检测能力，超声C扫描机构，故C-SAN可以有效的检出IC构装中因水气或热能所造成的破坏如﹕脱层、气孔及裂缝…等。超声波在行经介质时，若遇到不同密度或弹性系数之物质时，即会产生反射回波。而此种反射回波强度会因材料密度不同而有所差异.C-SAN即利用此特性来检出材料内部的缺陷并依所接收之讯号变化将之成像。因此，只要被检测的IC上表面或内部芯片构装材料的接口有脱层、气孔、裂缝…等缺陷时，即可由C-SAN影像得知缺陷之相对位置。C-SAN服务超声波扫描显微镜(C-SAN)主要使用于封装内部结构的分析，因为它能提供IC封装因水气或热能所造成破坏分析，例如裂缝、空洞和脱层。C-SAN内部造影原理为电能经由聚焦转换镜产生超声波触击在待测物品上，将声波在不同接口上反射或穿透讯号接收后影像处理，再以影像及讯号加以分析。C-SAN可以在不需破坏封装的情况下探测到脱层、空洞和裂缝，且拥有类似X-Ray的穿透功能，并可以找出问题发生的位置和提供接口数据。c扫描原理主要应用范围·晶元面处脱层·锡球、晶元、或填胶中之裂缝·晶元倾斜·各种可能之孔洞（晶元接合面、锡球、填胶…等）·覆晶构装之分析德国KSI声扫描显微镜C-SAM(SAT)世界先进的机器WINSAMVarioIII声扫描显微镜1～500MHz●非破坏性材料内部结构测试●快速的超声波频率设置●全新的操作软件简单易用●紧凑的模块化设计●广泛应用于半导体工业，材料测试，生命科学等领域非破坏性失效分析：视觉效果定量分析自动控制－3D形貌再现－同时观察多个层面－显示样品的机械性能（硬度，密度，北京超声C扫描，压力等）－实时超声波飞时图表（A-Scan）－纵向截面图像（B-Scan）－XY图像（C-Scan，D-Scan，自动扫描，多层扫描）－第二个监视器便于图像的观察和操作－失效统计－柱状图显示－长度测量－膜厚测量－多方式图像处理－超声波传输时间测量－无损伤深度测量－数字信号分析－相位测量－自动XYZ扫描－自动存储仪器参数－运用分层运算方法进行自动失效鉴别－自动滤波参数设置－换能器自动聚焦－高分辨率下自动进行高速扫描C扫描检测超声波探伤技术作用C扫描检测超声波探伤技术对提高产品质量，促进安全生产有着十分重要的意义，特别是随着新材料、新技术的广泛应用，各种结构零件向高参量、大容量方向发展。不仅要提高缺陷检测的准确率和可靠性，超声C扫描机构，而且要把传统的无损检测技术和现代信息技术相结合，实现无损检测的数字化、图像化、实时化和智能化。因此，有必要对现有超声波探伤技术进行改进和完善，以适应各种工业应用的需要。北京超声C扫描-北京纳克公司-超声C扫描机构由钢研纳克检测技术股份有限公司提供。钢研纳克检测技术股份有限公司坚持“以人为本”的企业理念，拥有一支高素质的员工队伍，力求提供更好的产品和服务回馈社会，并欢迎广大新老客户光临惠顾，真诚合作、共创美好未来。北京纳克无损——您可信赖的朋友，公司地址：北京市海淀区高梁桥斜街13号，联系人：刘经理。)