企业视频展播，请点击播放视频作者：钢研纳克检测技术股份有限公司对比试样校准根据测量原理分类1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢﹨铁﹨银﹨镍.此种方法测量精度高2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量，此种方法较磁性测厚法精度低。3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵﹨测量精度也不高。4.电解测厚法:此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层.一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦。5.射线测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上)，适用于一些特殊场合。国内目前使用较为普遍的是1﹨2两种方法。对比试样校准声速调节超声波测厚仪的声速变了，测量值就会变。例，在调节声速时，按一下“ENTER”键则声速快速地调整为5900M/S。在菜单中选择“声速”或“声速调整”，试样校准报价，按住“CAL”或“校准”键两秒左右，声速就快速地调整为5900M/S，再按“ENTER”或“确认”键，河北试样校准，就返回到测量状态。如果测量还存在误差，测量仪器上的标准试块，液晶应该显示“4.0”或“4.00mm”，若是其数字，则在一边测量试块一边按住“CAL”或“校准”键2秒左右，试样校准公司，直到数字变成“4.0”或“4.00mm”，即完成了对仪器的校准，就可以准确无误地进行测量了。对比试样校准类型1.涡流-当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，试样校准方案，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流所产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。2.同位素-利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。河北试样校准-北京纳克公司-试样校准公司由钢研纳克检测技术股份有限公司提供。钢研纳克检测技术股份有限公司是一家从事“无损检测检验,无损校准评价,无损检测系统,无损检测仪器”的公司。自成立以来，我们坚持以“诚信为本，稳健经营”的方针，勇于参与市场的良性竞争，使“纳克无损”品牌拥有良好口碑。我们坚持“服务至上，用户至上”的原则，使北京纳克无损在机械及工业制品项目合作中赢得了客户的信任，树立了良好的企业形象。特别说明：本信息的图片和资料仅供参考，欢迎联系我们索取准确的资料，谢谢！)