企业视频展播，请点击播放视频作者：钢研纳克检测技术股份有限公司对比试样校准测量方法覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中有五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有射线源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。对比试样校准探头选择超声波测厚仪探头根据性能和直径分类主要有7MHz/φ6mm探头、5MHz/φ10mm探头、2.5MHz/φ14mm探头、5MHz/φ8mm使用某一探头前应先在仪器上选择对应的探头按“ENTER”或“确认”键保存，下次开机时，试样校准，探头为本次选择的探头。为保证仪器精度和稳定性，试样校准方案，建议不要互换探头。仪器使用后，应擦去探头及仪器上的耦合剂和污垢。对比试样校准声速调节超声波测厚仪的声速变了，试样校准报价，测量值就会变。例，在调节声速时，按一下“ENTER”键则声速快速地调整为5900M/S。在菜单中选择“声速”或“声速调整”，按住“CAL”或“校准”键两秒左右，声速就快速地调整为5900M/S，再按“ENTER”或“确认”键，就返回到测量状态。如果测量还存在误差，测量仪器上的标准试块，液晶应该显示“4.0”或“4.00mm”，试样校准机构，若是其数字，则在一边测量试块一边按住“CAL”或“校准”键2秒左右，直到数字变成“4.0”或“4.00mm”，即完成了对仪器的校准，就可以准确无误地进行测量了。试样校准机构-试样校准-纳克无损公司由钢研纳克检测技术股份有限公司提供。钢研纳克检测技术股份有限公司位于北京市海淀区高梁桥斜街13号。在市场经济的浪潮中拼博和发展，目前北京纳克无损在机械及工业制品项目合作中享有良好的声誉。北京纳克无损取得全网商盟认证，标志着我们的服务和管理水平达到了一个新的高度。北京纳克无损全体员工愿与各界有识之士共同发展，共创美好未来。)