PAUT价格-PAUT-纳克无损公司(查看)
企业视频展播,请点击播放视频作者:钢研纳克检测技术股份有限公司超声相控阵的角度补偿传统工业相控阵定量方法不具有角度、声程、晶片增益修正技术,PAUT公司,多晶片探头通过楔块入射到工件内部时存在入射点漂移现象和能量分布变化。采用单一入射点校准方式与常规距离-波幅曲线修正,造成的扇形扫查区域中能量分布不均匀及测量误差等问题未能有效解决,如图7所示。而ISONIC-UPA相控阵设备具有角度补偿功能,能有效地解决此类问题。所谓角度补偿就是针对不同的聚焦法则,输入扇形扫查所需的角度范围及入射角度的增量后,晶片可以分别进行角度增益调整,也就是晶片角度增益修正。有了角度增益补偿设置功能,PAUT价格,可以取代传统的通过设置DAC曲线的方法来补偿增益变化。在ASMECase2557标准中明确指出进行扇形扫描时要进行角度增益补偿。角度增益补偿曲线如图8所示,经过角度补偿后得到的等量化数据。不同类型的相控阵超声检测扇形扫描即S扫描,在设定深度上,相控阵探头按聚焦法则分别计算每个偏转角度得聚焦延迟,PAUT方案,激发时以从左至右的顺序分别激发,形成一定范围内的扇形扫查。扫查时须要设置扇扫范围、角度间隔和聚焦深度。右图给出了扇形扫查的检测原理和扫查成像图。线性扫描又称电子扫查。扫描时先将探头阵元分为数量相同的若干小组,由延迟器传输的触发脉冲分别依次激发各小组阵元,检测声场在空间中以恒定角度对探头长度方向进行扫查检测。线性扫查检测前须要设定好阵元数、聚焦深度。右图给出了线性扫描的检测原理和扫描成像图。超声相控阵的二次波显示传统相控阵扇形扫查采用单纯的声程显示,不能显示缺陷的真实位置。这种成像模式将处在二次波位置上的缺陷转换成一次波位置进行成像显示,给分辨缺陷的具体位置增加难度,PAUT,不能直观给出缺陷真实位置。对于检测角焊缝、T形焊缝、K形焊缝及Y形焊缝无法显示真实成像结果,使该成像模式的应用受到限制,仅能用于检测对接接头。而ISONIC-UPA采用二次波检测成像显示模式,成像结果与真实几何结构一致。这种成像模式能直观显示缺陷的位置及被检工件焊缝的真实结构,这是声程显示成像模式无法比拟的。PAUT价格-PAUT-纳克无损公司(查看)由钢研纳克检测技术股份有限公司提供。钢研纳克检测技术股份有限公司是一家从事“无损检测检验,无损校准评价,无损检测系统,无损检测仪器”的公司。自成立以来,我们坚持以“诚信为本,稳健经营”的方针,勇于参与市场的良性竞争,使“纳克无损”品牌拥有良好口碑。我们坚持“服务至上,用户至上”的原则,使北京纳克无损在机械及工业制品项目合作中赢得了客户的信任,树立了良好的企业形象。特别说明:本信息的图片和资料仅供参考,欢迎联系我们索取准确的资料,谢谢!)